ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
DOI:
https://doi.org/10.32626/2308-5916.2008-1.140-144Ключові слова:
діагностика, локалізація несправних підсхем, принцип декомпозиції.Анотація
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.Завантаження
Посилання
Мозгалевский А. В., Калявин В. П., Костанди Г. Г. Диагностирование электронных схем. – Л.: Судостроение, 1984. – 224 с.
Киншт Н. В., Герасимова Г. Н., Кац М. А. Диагностика электрических цепей. – М.: Энергоатомиздат, 1983. – 192 с.
Влах И., Сингхал К. Машинные методы анализа и проектирования электронных схем. – М.: Радио и связь, 1988. – 560 с.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Автори, які публікуються в цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
Автори зберігають авторські права та надають журналу право першої публікації роботи, одночасно ліцензованої за ліцензією Creative Commons Attribution License, яка дозволяє іншим поширювати роботу з посиланням на авторство роботи та її першу публікацію в цьому журналі.
Автори можуть укладати окремі додаткові договірні угоди щодо неексклюзивного розповсюдження опублікованої в журналі версії роботи (наприклад, розміщувати її в інституційному репозиторії або публікувати в книзі) з посиланням на її першу публікацію в цьому журналі.
Авторам дозволяється та заохочується публікувати свої роботи онлайн (наприклад, в інституційних репозиторіях або на своєму вебсайті) до та під час процесу подання, оскільки це може призвести до продуктивного обміну, а також до більш раннього та більшого цитування опублікованих робіт (див. The Effect of Open Access).